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计算机工程 ›› 2012, Vol. 38 ›› Issue (04): 205-207. doi: 10.3969/j.issn.1000-3428.2012.04.067

• 工程应用技术与实现 • 上一篇    下一篇

基于扫描链阻塞技术的时延测试方法

王泽成,尤志强   

  1. (湖南大学软件学院,长沙 410082)
  • 收稿日期:2011-05-20 出版日期:2012-02-20 发布日期:2012-02-20
  • 作者简介:王泽成(1986-),男,硕士研究生,主研方向:SoC测试与设计;尤志强,副教授、博士
  • 基金资助:
    国家自然科学基金资助项目(60673085)

Delay Test Method Based on Scan Chain Blocking Technique

WANG Ze-cheng, YOU Zhi-qiang   

  1. (Software School, Hunan University, Changsha 410082, China)
  • Received:2011-05-20 Online:2012-02-20 Published:2012-02-20

摘要: 针对时延测试功耗和测试费用较高的问题,提出一种低费用的轮流捕获时延测试方法。采用扫描阻塞技术,将被测电路中的所有扫描单元分成多条子扫描链,使电路中每时刻只有一条子扫描链活跃。在进行故障测试时,通过阻塞一部分子扫描链,使扫描单元得到充分利用。实验结果表明,该方法能降低测试应用时间和测试数据量,且硬件开销较少。

关键词: 时延测试, 可测性设计, 低费用测试, 扫描链阻塞技术

Abstract: In order to solve the high test cost and high test power, the study proposes a low cost test method. Using scan chain blocking technique, all sequence elements are divided into N scan sub-chains and only one scan sub-chain is active at a time during scan test. Not all elements need to be active in test. The division of sub-chain makes some sequence elements inactive in test model and make full use of scan elements. Experimental result demonstrates that the method can drastically reduce test application time with a low cost on hardware.

Key words: delay test, Design for Test(DFT), low cost test, scan chain blocking technique

中图分类号: