<p>含存储器数字电路系统的自动测试生成</p>

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作者投稿和查稿主编审稿专家审稿编委审稿远程编辑

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含存储器数字电路系统的自动测试生成

成本茂;杨士元;王红;鞠艳秋

ATPG for Digital Circuits with Memory Chips

CHENG Ben-mao; YANG Shi-yuan; WANG Hong; JU Yan-qiu

计算机工程 . 2007, (23): 252 -254, . DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2007.23.088