一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法

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作者投稿和查稿主编审稿专家审稿编委审稿远程编辑

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一种基于扫描链阻塞技术的低费用测试方法

刘鹏, 张云, 尤志强, 邝继顺, 彭程

Low Cost Test Method Based on Scan Chain Disabling Technique

LIU Feng, ZHANG Yun, YOU Zhi-Jiang, KUANG Ji-Shun, BANG Cheng

计算机工程 . 2011, (14): 254 -255 . DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.14.086