用于成品率分析芯片的LVS方法

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作者投稿和查稿主编审稿专家审稿编委审稿远程编辑

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用于成品率分析芯片的LVS方法

申飞, 史峥, 潘伟伟, 严晓浪

LVS Method for Yield Analysis Chip

SHEN Fei, SHI Zheng, BO Wei-Wei, YAN Xiao-Lang

计算机工程 . 2011, (22): 225 -227 . DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2011.22.075