一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案

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作者投稿和查稿主编审稿专家审稿编委审稿远程编辑

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一种低功耗系统芯片的可测试性设计方案

徐太龙，鲁世斌，代广珍，孟坚，陈军宁

A Testability Design Scheme for Low Power Consumption System-on-Chip

XU Tai-long, LU Shi-bin, DAI Guang-zhen, MENG Jian, CHEN Jun-ning

计算机工程 . 2014, (3): 306 -309 . DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2014.03.065