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基于改进Radon变换的芯片几何特征检测
孔华锋;鲁宏伟;胡东红
Geometry Feature Detection of Chip Based on Improved Radon Transform
KONG Hua-feng; LU Hong-wei; HU Dong-hong
计算机工程 . 2008, (
10
): 210 -211 . DOI: 10.3969/j.issn.1000-3428.2008.10.076
