计算机工程

CMCIC 2017中国测控技术与仪器大会征文通知

CMCIC 2017中国测控技术与仪器大会

征文通知

2017 China Conference on Measurement and Control Technology and Instruments

测控技术与仪器是涉及电子学、光学、仪器学、精密机械、计算机、信息与控制技术等多项前沿科技的一门综合性的高新技术。伴随全球新一轮科技革命和产业变革的兴起，先进测控技术及其高端仪器设备将是我国实现“制造强国”战略的关键基础，将成为支撑各领域创新发展的前沿和热点方向。为进一步落实《中国制造2025》国家战略，加快推动测控技术与仪器的创新及应用发展，满足各行业创新应用需求，由中国光学工程学会联合多家权威机构于2017年6月在北京举办“2017中国测控技术与仪器大会”。

此次大会旨在进一步推动该领域的前沿技术创新与发展，探讨国内外先进测控、计量及检测技术与仪器设备的前沿创新技术成果、优秀的应用解决方案；希望将国际先进的测控、仪器技术和理念与国内实际需求交汇融合，真正搭建起该领域“产、学、研、用”的高质量互动交流平台。届时，欢迎业内广大高校、科研院所、重点实验室教师、研究生以及国内外高科技企业踊跃投稿，参会。

主办单位： 中国光学工程学会

承办单位： 中国高科技产业化研究会产学研合作协调部中国测控网

联办单位： 中国高科技产业化研究会中国无人机任务系统及技术产业联盟

中国光纤传感技术及产业创新联盟

名誉主席：金国藩院士清华大学叶声华院士天津大学

大会主席： 李天初院士中国计量科学研究院丁汉院士华中科技大学

张广军院士东南大学

时间：2017年6月5-7日地点：北京中国国际展览中心（顺义新馆）

征文方向：（建议但不局限于如下方向）

1.测控信息采集和通信传输

2.测控信息与数据处理

3.测试、测量与仪器技术

4.智能检测控制技术及仪器仪表装置

5.软件技术/嵌入式系统

6.状态监测、健康管理与故障诊断

7.校准和可追溯性

8.仿真建模与试验测试

9.无人装备与测控系统技术

10.先进测控与智能制造

11.仪器与测量研究与工程

12.制导、导航与控制技术

13.测控技术与仪器前沿科学技术、发展趋势

……

投稿须知：

第一轮摘要截稿：2017 年4月 28 日

投稿要求：请作者登陆会议网站http://www.manuscript-cnoenet.com（选择测控会议专题）先提交英文摘要，摘要长度为300‐400个单词，详细要求参见会议网站。收到组委会发的录用通知后，请按通知要求将论文全文提交至SPIE网站。（稿件提交越早，审稿周期越快，希望感兴趣人员尽早提交论文！）

论文发表：所有通过大会学术委员会专家审查被录用的英文论文，将由SPIE正式会议文集出版(EI核心收录)，会后约半年能够在EI数据库检索到。部分优秀论文（含中文）将被推荐到合作期刊正式发表（SCI或Ei收录）。合作期刊：红外与激光工程（Ei）、物理学报（SCI）、机械工程与自动化（Ei）、电力系统自动化（Ei）、《中国测试》、《测试技术学报》、《计算机测量与控制》、《测控技术》、《航天控制》、《空间控制技术与应用》、《计算机工程》、《兵工自动化》、《太赫兹科学与电子信息学报》、《仪器仪表学报》、《工业控制计算机》、《控制理论与应用》、《现代雷达》、《安全与电磁兼容》……等。

论文发表与参会费：

会议注册费1600元/人，含资料，餐，杂支等。4月10日前报名汇款优惠为1200元/人。注册费不含版面费，版面费2600元，其他期刊投稿组委会不代收版面费（按照期刊要求自行缴纳）；无论是否投稿均欢迎参会。推荐提前电汇，请务必注明参会人“姓名+测控”

【征稿细则】具体要求详见官方网站：http://www.ck365.cn

组委会联系方式

联系人：张老师高老师顾老师

电话：010-68832370 邮箱：ckdh365@163.com 手机：15300121106

发布日期: 2017-03-21 访问总数: 1168

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