Abstract: After analyzing the change of test requirement, this paper presents a waveform data format based on the similar-STIL in test vector translation from EDA to ATE. Based on this waveform data format, a compressing and coding algorithm, which is to solve the large test vector, is developed. Experimental results show that this format is efficient in test vector translation and algorithm reduces the test data storage.

Key words: Test vector, Waveform data format, Standard test interface language (STIL), Compressing and coding algorithm

摘要： 为了实现由芯片设计仿真出来的测试向量到测试设备的测试程序转换，在分析了不断变化的测试需求后，提出了一种类-STIL的波形数据格式。针对该波形数据格式，实现了一种基于测试向量特点的动态无损的压缩编码算法, 从而解决了测试向量的大容量问题。实验结果表明，在该波形格式基础上的测试向量转换，不仅在速度上得到优化，同时针对大容量的测试向量集合，也获得了较高的压缩结果。

关键词: 测试向量, 波形数据格式, 标准测试接口语言, 压缩编码算法