摘要： 为了产生测试引进了九一值电路模型,此模型考虑了时序电路中的故障的多重和重复的影响。利用这个模型测试序列可以被确定,它允许时序电路的内部状态的多重和重复的虚设。因此有效的测试序列被导出,而其他熟知的过程像D—算法,虽然有测试存在却无法找到任何测试。 模型被定义且测试产生的过程被指出,它类似于D—算法。异步电路必须变换成同步电路或叠接组合电路,对这类电路测试被产生。因为冒险或振荡可以使测试变成无效所以异步电路测试序列的有效性必须通过测试模拟来确定。作为例子这模型被应用到一个异步电路中“常驻”一型的单故障和多故障,并且给出测试产生程序的总框图。
Peter
,Muth
,周和瑛. 产生时序电路测试的九—值电路模型[J]. , 1978, 4(03): 54-61.