›› 1981, Vol. 7 ›› Issue (01): 60-65.
• 论文 • 上一篇 下一篇
沈文耀,王仁德,徐德衍,王德林
发布日期:
Published:
摘要: 描述了单色光干涉测量技术在磁盘机的磁头-盘片微小间隙测试方面的原理及其几种具体应用。试验的技术方案是在模拟盘片的光学玻璃圆盘上进行的。
沈文耀,王仁德,徐德衍,王德林. 磁头-盘片间隙测试仪及其应用[J]. , 1981, 7(01): 60-65.
/ 推荐 / 导出引用
链接本文: https://www.ecice06.com/CN/Y1981/V7/I01/60