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›› 1981, Vol. 7 ›› Issue (01): 60-65.

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磁头-盘片间隙测试仪及其应用

沈文耀,王仁德,徐德衍,王德林   

  1. 华东计算技术研究所,华东计算技术研究所,中科院,中科院 上海光机所,上海光机所
  • 发布日期:1981-02-25
  • Published:1981-02-25

摘要: 描述了单色光干涉测量技术在磁盘机的磁头-盘片微小间隙测试方面的原理及其几种具体应用。试验的技术方案是在模拟盘片的光学玻璃圆盘上进行的。