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›› 1981, Vol. 7 ›› Issue (02): 79-82.

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IBM3370部件综合概念

CharlesC.Lin ,GottfriedE.Mauersberger ,刘守谦   

  • 发布日期:1981-04-25
  • Published:1981-04-25

摘要: 本文表示在记录磁头和磁道之间,在一个给定的读数误差率情况下,对于配准不良的测量可以用于预示机械误差率。