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›› 1994, Vol. 20 ›› Issue (01): 60-62.

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冗余磁盘阵列的可靠性评价

骆新国,张江陵   

  1. 华中理工大学
  • 发布日期:1994-02-25

Reliability Evaluation of RAID

  • Published:1994-02-25

摘要: 随着CPU速度的迅速提高,I/O与之不匹配加剧,高性能计算机面临愈来愈严重的I/O瓶颈问题,磁盘阵列作为解决这一难题的新路线有着光明的发展前景.本文针对磁盘阵列技术中目前最受关注的可靠性展开分析、计算、讨论,以建立一种公正的评价体系.

关键词: 计算机I/O瓶颈;磁盘阵列;冗余结构;容错;系统可靠性

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