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›› 2004, Vol. 30 ›› Issue (24): 178-180.

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基于ARM嵌入式开发的调试方案

黄克彬,叶梧,冯穗力   

  1. 华南理工大学电子通信工程系,华南理工大学电子通信工程系,华南理工大学电子通信工程系 广州 510640
  • 发布日期:2004-12-25

Debug Solution for ARM Embedded Development

HUANG Kebin, YE Wu, FENG Suili   

  1. (Dept. of Electronic & Communications Engineering, South China Univ. of Tech., Guangzhou 510640)
  • Published:2004-12-25

摘要: 分析和比较了基于Angel的调试系统和基于Multi-ICE的调试系统,给出了分别基于这两种调试系统的ARM嵌入式开发的调试方案,有效地解决了高端嵌入式处理器开发中的调试难点。

关键词: 调试, 嵌入式系统, ARM, Angel, Multi-ICE

Abstract: This paper analyzes and compiles Angel-based debug system and Multi-ICE-based debug system, and advancestwo type of ARM embedded development debug solutions respectively based on these debug systems. These solutions effectively solve the debug difficulties of embedded processor development.

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