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›› 2003, Vol. 29 ›› Issue (04): 83-.

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一种基于可测性的寄存器分配算法

徐敬波,薄亚明,郑明   

  1. 江南大学,江南大学,无锡华晶矽科微电子公司 无锡 214036
  • 发布日期:2003-02-25

Register Assignment Algorithm Considering Testability

XU Jingbo1,BO Yaming1,ZHENG Ming2   

  1. (1.SouthYangzijiang University,Wuxi 214036;2.Wuxi Huajing Semico Microelectronic Co.)
  • Published:2003-02-25

摘要: 提出了一种在高层次综合的寄存器分配过程中考虑可测性的算法。该算法在将一个调度好的CDFG(Control Data Flow Graph)的变量分配到相应的寄存器的过程中,通过对未能分配复用到输入、输出寄存器的变量进行可测性处理,达到提高设计可测性的目的。同时在进行可测性处理的时候,定义了CDFG的节点的可测性测度方法。

关键词: 高层次综合, 可测性, 可测性测度

Abstract: This paper presents an algorithm to consider testability during high-level synthesis. Using the input control data flow graph for a design, the proposed algorithm binds each variable to a corresponding register using the left/right algorithm. The algorithm can deal with cyclic CDFG by the extension of variable lifetime.

中图分类号: