摘要： 介绍了在IEEE754标准的规定下生成用于浮点功能部件的测试向量的方法,讨论了测试向量在数据通路上的差错覆盖率,并给出了对该方法的一些改进措施。

关键词: IEEE754, 测试, 测试向量, 差错覆盖率, 浮点功能部件

Abstract: This paper proposes the test suites generating method for floating-point unit based on IEEE754 standard, discusses the fault coverage of the test suites. And it gives some improving measures for the method.

中图分类号: 

• TP332