摘要： 介绍了可测试性设计的一般方法,着重讨论了NDSP25数字信号处理器芯片核的可测试性设计策略,以及可测试性设计的实现,并对可测试性设计的结果进行了统计和分析。

关键词: NDSP25芯片核, 可测试性设计, 内建自测试

Abstract: This paper introduces the most frequently used DFT techniques, puts emphasis on the DFT policy and the DFT realization of the NDSP25 chip core, and analyses the result

中图分类号: 

• TN407