Abstract:
This paper introduces the most frequently used DFT techniques, puts emphasis on the DFT policy and the DFT realization of the NDSP25 chip core, and analyses the result
摘要： 介绍了可测试性设计的一般方法,着重讨论了NDSP25数字信号处理器芯片核的可测试性设计策略,以及可测试性设计的实现,并对可测试性设计的结果进行了统计和分析。
关键词:
NDSP25芯片核,
可测试性设计,
内建自测试
CLC Number:
XUEJing, BAI Yongqiang. DFT Techniques in DSP Chip Core NDSP25[J]. , 2004, 30(15): 179-181.
薛静,白永强. 数字信号处理器芯片核NDSP25的可测试性设计[J]. , 2004, 30(15): 179-181.